Публикации

Бабаян Р.Р. Модель тепловыделения в гибридных интегральных микросхемах // Автоматизация в промышленности. 2010. № 3. С. 65-67.
Бабаян Р.Р. Разработка схем быстродействующих аналого-цифровых преобразователей / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 256.
Бабаян Р.Р. Разработка схем высокоточных быстродействующих цифро-аналоговых преобразователей / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 256.
Бабаян Р.Р. Аналоговые коммутаторы и ключи / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. Труды конференции УКИ'2010. С. 257.
Терешин В.И., Совлуков А.С., Лоос К.С. Современные технологии передачи данных в системах автоматизированного управления и учета СУГ // Транспорт на альтернативном топливе. 2010. С. -.
Васьковский С.В., Осипов А.Б. Применение мультиплексного канала при построении распределенных микропроцессорных комплексов / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 232-234.
Васьковский С.В., Жабин М.А. Построение корпоративных IP-сетей / . -: -, 2010. С. -.
Осипов А.Б., Шаврин И.Н. Таблицы Exel как средство упрощения интерфейса оператора в установке очистки / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 918-921.
Маслов А.С., Совлуков А.С., Яценко В.В., Власова А.Р. Применение радиочастотного метода для непрерывного контроля процесса приготовления коптильного препарата / . -: -, 2010. С. -.
Башин А.Ю., Селезнев А.Н. Сравнение эффективности отжига радиационных дефектов при помощи инфракрасного излучения для биполярных и МОП транзисторов / . -: -, 2010. С. 98-99.

Pages