79894

Автор(ы): 

Чернова А. С. (АО "НИИМЭ")
Жевненко Д. А. (АО "НИИМЭ")
Мещанинов Ф. П. (АО "НИИМЭ")
Тельминов О. А. (ИПУ РАН, Лаборатория 80)

Автор(ов): 

4

Параметры публикации

Тип публикации: 

Тезисы доклада

Название: 

Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения

Наименование конференции: 

  • IX Российский форум "Микроэлектроника 2023"

Наименование источника: 

  • Тезисы докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023"

Город: 

  • Москва

Издательство: 

  • АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"

Год издания: 

2023

Страницы: 

837-838
Аннотация
Реализованы алгоритмы для детектирования и классификации аномалий вольт-амперных характеристик транзисторов на основе методов машинного обучения. Используются подходы обучения без учителя. Алгоритм детектирования аномалий основан на автокодировщике, алгоритм классификации — на методе K-средних.

Библиографическая ссылка: 

Чернова А.С., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Тельминов О.А. Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения / Тезисы докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2023. С. 837-838.