79885 | ИПУ РАН

Автор(ы):

Автор(ов):

Параметры публикации

Тип публикации:

Доклад

Название:

Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения

ISBN/ISSN:

1993-8578

DOI:

10.22184/1993-8578.2024.17.10s.756.764

Наименование конференции:

IX Российский форум "Микроэлектроника 2023"

Наименование источника:

Сборник докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023"

Город:

Москва

Издательство:

АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера"

Год издания:

2024

Страницы:

756-764

Аннотация

Реализованы алгоритмы для детектирования и классификации аномалий вольт-амперных характеристик транзисторов на основе методов машинного обучения. Используются подходы обучения без учителя. Алгоритм детектирования аномалий основан на автокодировщике, алгоритм классификации - на методе K-средних.

Библиографическая ссылка:

Чернова А.С., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения / Сборник докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2024. С. 756-764.