Статьи в журналах/сборниках из перечня Web of Science/Scopus |
| 1 | Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Investigation of the temperature dependence of volt-ampere characteristics of a thin-film Si3N4 memristor // Crystals. 2023. Том:13 № 2. С. https://www.mdpi.com/2073-4352/13/2/323. | 2023 |
Статьи в журналах/сборниках из перечня ВАК |
| 2 | Воронова Н.В., Тельминов О.А., Янович С.И., Чернуха А.С., Винник А.А. Примеры применения плёнок IGZO в биосенсорике // Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. 2025. № 2(198). С. 22-26. | 2025 |
Доклады |
| 3 | Тельминов О.А., Мизгинов Д.С., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Анализ применимости тонкопленочных мемристоров на Si3N4 в нейровычислителях с длительным хранением весов / Материалы 18-й Всероссийской научно-практической конференции «Перспективные системы и задачи управления» и 14-ой молодежной школы-семинара «Управление и обработка информации в технических системах» (Таганрог, 2023). Таганрог: ООО "Лукоморье", 2023. С. 206-211. | 2023 |
Тезисы докладов |
| 4 | Тельминов О.А., Горнев Е.С., Янович С.И., Мизгинов Д.С. Анализ паразитных факторов при масштабировании размерности мемристивных кроссбаров для вычислений в памяти / Сборник тезисов VIII Российского форума "Микроэлектроника 2022". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2022. С. 484-485. | 2022 |
| 5 | Тельминов О.А., Горнев Е.С., Черняев Н.В., Янович С.И., Мошкарова Л.А., Шахманова М.В. Исследование возможности построения цифрового двойника интегральных схем для анализа и прогнозирования их надежности / Журнал Наноиндустрия. М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2021. С. 694-695. | 2021 |
| 6 | Тельминов О.А., Горнев Е.С., Янович С.И., Шарапов А.А., Мошкарова Л.А., Шахманова М.В. Исследование возможностей интеграции процессов формирования покрытий для выращивания 1D-2D-материалов с технологией КМОП / Журнал Наноиндустрия. М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2021. С. 932-934. | 2021 |
| 7 | Тельминов О.А., Горнев Е.С., Мошкарова Л.А., Янович С.И., Морозов Е.Н. Оценка возможности применения нейросетевого байесовского подхода к выявлению корреляции между параметрами тестовых элементов для межоперационного контроля технологического процесса и характеристиками формируемой транзисторной структуры / Журнал Наноиндустрия. М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2020. С. 559-560. | 2020 |
