Мизгинов Д. С. (АО "НИИМЭ"). Публикации

№Библиографическая ссылкаГод

Статьи в журналах/сборниках из перечня Web of Science/Scopus
1Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Investigation of the temperature dependence of volt-ampere characteristics of a thin-film Si3N4 memristor // Crystals. 2023. Том:13 № 2. С. https://www.mdpi.com/2073-4352/13/2/323.2023

Доклады
2Тельминов О.А., Мизгинов Д.С., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Анализ применимости тонкопленочных мемристоров на Si3N4 в нейровычислителях с длительным хранением весов / Материалы 18-й Всероссийской научно-практической конференции «Перспективные системы и задачи управления» и 14-ой молодежной школы-семинара «Управление и обработка информации в технических системах» (Таганрог, 2023). Таганрог: ООО "Лукоморье", 2023. С. 206-211.2023

Тезисы докладов
3Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Анализ современного состояния мемристорных структур на основе оксида галлия, изготовленных на кремниевой подложке / Тезисы докладов XV Конференции по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе (Иркутск, 2024). Иркутск: Институт географии им. В.Б. Сочавы СО РАН, 2024. С. 46.2024
4Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Обзор современного состояния мемристорных структур на основе GaO2 / Сборник тезисов докладов X Российского форума "Микроэлектроника 2024". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2024. С. 1292-1293.2024
5Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Современные подходы к повышению надежности мемристорных структур для формирования элементной базы нового поколения / Тезисы докладов X Российского форума, Школы молодых ученых "Микроэлектроника 2024". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2024. С. 679-680.2024
6Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Моделирование мемристорных структур для формирования элементной базы нового поколения / Тезисы докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2023. С. 771-772.2023
7Тельминов О.А., Горнев Е.С., Янович С.И., Мизгинов Д.С. Анализ паразитных факторов при масштабировании размерности мемристивных кроссбаров для вычислений в памяти / Сборник тезисов VIII Российского форума "Микроэлектроника 2022". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2022. С. 484-485.2022