Мещанинов Ф. П. (АО "НИИМЭ"). Публикации

№Библиографическая ссылкаГод

Статьи в журналах/сборниках из перечня Web of Science/Scopus
1Мизгинов Д.С., Тельминов О.А., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Investigation of the temperature dependence of volt-ampere characteristics of a thin-film Si3N4 memristor // Crystals. 2023. Том:13 № 2. С. https://www.mdpi.com/2073-4352/13/2/323.2023
2Теплов Г.С., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Кожевников В.С., Саттаров П.Ш., Кузнецов С.В., Магомедрасулов А.М., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Memristor degradation analysis using auxiliary volt-ampere characteristics // Micromachines. 2022. V 13 № 10. С. https://www.mdpi.com/2072-666X/13/10/1691.2022
3Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Кожевников В.С., Шамин Е.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Research and development of parameter extraction approaches for memristor models // Micromachines. 2021. V: 12 № 10. С. https://www.mdpi.com/2072-666X/12/10/1220.2021
4Мещанинов Ф.П., Жевненко Д.А., Кожевников В.С., Шамин Е.С., Тельминов О.А., Горнев Е.С. A study of the applicability of existing compact models to the simulation of memristive structures characteristics on low-dimensional materials // Micromachines. 2021. V: 12 № 10. С. https://www.mdpi.com/2072-666X/12/10/1201.2021

Доклады
5Чернова А.С., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Тельминов О.А., Горнев Е.С. Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения / Сборник докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2024. С. 756-764.2024
6Тельминов О.А., Мизгинов Д.С., Янович С.И., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Горнев Е.С. Анализ применимости тонкопленочных мемристоров на Si3N4 в нейровычислителях с длительным хранением весов / Материалы 18-й Всероссийской научно-практической конференции «Перспективные системы и задачи управления» и 14-ой молодежной школы-семинара «Управление и обработка информации в технических системах» (Таганрог, 2023). Таганрог: ООО "Лукоморье", 2023. С. 206-211.2023

Тезисы докладов
7Чернова А.С., Жевненко Д.А., Мещанинов Ф.П., Тельминов О.А. Исследование и автоматизация процесса классификации по причинам отказа ЭКБ методами машинного обучения / Тезисы докладов IX Российского форума "Микроэлектроника 2023". М.: АО "Рекламно-издательский центр "Техносфера", 2023. С. 837-838.2023