Перейти к основному содержанию
ИПУ РАН
°C
%
м/с
мм рт.ст.
Данные предоставлены
energy.ipu.ru
Русский
English
горизонтальное меню
ОБЪЯВЛЕНИЯ
Учёный совет
Диссертационные советы
Конференции и выставки Института
Семинары Института
Конференции, выставки, семинары вне Института
Аспирантура и докторантура
Библиотека
Профком
ИНСТИТУТ
85 лет Институту
Общие сведения - краткая презентация
Историческая справка
Выдающиеся учёные
Награды, звания
Интервью и видеоинтервью наших сотрудников
Информационный бюллетень
Rutube канал
Школьникам, студентам, аспирантам
ПУБЛИКАЦИИ
Монографии
Поиск
КОНТАКТЫ
Селвамутху Д. .. (Indian Institute of Technology Delhi). Публикации
№
Библиографическая ссылка
Год
Монографии
1
Вишневский В.М., Селвамутху Д.., Рыков В.В., Козырев Д.В., Иванова Н.М., Кришнамурти А.. Reliability Assessment of Tethered High-altitude Unmanned Telecommunication Platforms. k-out-of-n Reliability Models and Applications. Singapore: Springer Nature Singapore Pte Ltd, 2024. – 167 с.
2024
Пленарные доклады и доклады из перечня Web of Science/Scopus
2
Селвамутху Д.., Adwaith S.Н., Raj R.., Kalita P.., Козырев Д.В., Вишневский В.М. Optimizing Tethered HAP Networks Configuration Using Genetic Algorithms / Proceedings of 2024 IEEE International Conference on Advanced Networks and Telecommunications Systems (ANTS). Guwahati: IEEE, 2025. С. https://ieeexplore.ieee.org/document/10898945.
2025
3
Селвамутху Д.., К. Р.., Raj R.., Вишневский В.М., Козырев Д.В. An Investigation of Phased Mission Reliability Analysis for Tethered HAP Systems / Proceeding of the 27th international scientific conference on Distributed Computer and Communication Networks: Control, Computation, Communications (DCCN-2024). Cham: Springer, 2025. LNCS volume 15460. С. 376–388.
2025
4
Вишневский В.М., Селвамутху Д.., Рыков В.В., Козырев Д.В., Иванова Н.М. Reliability modeling of a flight module of a tethered high-altitude telecommunication platform / Proceedings of 2022 International Conference on Information, Control, and Communication Technologies (ICCT). Astrakhan: IEEE, 2022. С. https://ieeexplore.ieee.org/document/9976764.
2022
Вход на сайт
Имя пользователя
*
Пароль
*
Забыли пароль?