67495 | ИПУ РАН

Автор(ы):

Автор(ов):

Параметры публикации

Тип публикации:

Доклад

Название:

Методы анализа и оценки показателей качества патентных данных, используемых при формировании и развитии распределенных патентных информационных фондов

Электронная публикация:

Да

ISBN/ISSN:

978-5-91450-256-7

Наименование конференции:

14-я Международная конференция "Управление развитием крупномасштабных систем" (MLSD-2021)

Наименование источника:

Труды 14-й Международной конференции "Управление развитием крупномасштабных систем" (MLSD-2021)

Город:

Москва

Издательство:

ИПУ РАН

Год издания:

2021

Страницы:

1467-1478

Аннотация

Сформулированы требования к качеству патентных данных распределенного патентного информационного фонда (РПИФ). Рассмотрены структура РПИФ, особенности формирования баз данных (БД) патентной документации РПИФ, доступа к данным и их использования, факторы, влияющие на качество проведения патентных поисков международного типа и экспертизы заявок на изобретение. Описаны показатели качества патентных данных БД РПИФ. Предложены основные критерии качества патентной информации. Для согласования критериев оценки качества БД РПИФ, предъявляемых их разработчиками и пользователями, разработана структура базы метаданных РПИФ

Библиографическая ссылка:

Сиротюк В.О. Методы анализа и оценки показателей качества патентных данных, используемых при формировании и развитии распределенных патентных информационных фондов / Труды 14-й Международной конференции "Управление развитием крупномасштабных систем" (MLSD-2021). М.: ИПУ РАН, 2021. С. 1467-1478.