6663

Автор(ы): 

Автор(ов): 

2

Параметры публикации

Тип публикации: 

Статья в журнале/сборнике

Название: 

Анализ результатов контрольных испытаний на безотказность КМДП СБИС

Наименование источника: 

  • Датчики и системы

Обозначение и номер тома: 

№8(123)

Город: 

  • Москва

Издательство: 

  • СенСиДат-Контрол

Год издания: 

2009

Страницы: 

9-13
Аннотация
Проведён анализ данных результатов испытаний на безотказность КМДП БИС и СБИС, производимых ведущими фирмами (“Xilinx” и“Altera”). Получены верхние оценки интенсивности отказов с доверительной вероятностью - 0,9 для всех видов цифровых ИМС, производимых этими фирмами. Работа производилась с целью использования результатов испытаний для прогнозирования показателей безотказности КМДП БИС. В результате выявлено, что интенсивность отказов ПЛИС практически не зависят от характерного размера элементов БИС и степени интеграции.

Библиографическая ссылка: 

Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Анализ результатов контрольных испытаний на безотказность КМДП СБИС // Датчики и системы. 2009. №8(123). С. 9-13.