Излагаются основные представления о функционировании магнитных интегральных схем (МИО на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД). Проведен анализ физических механизмов деградации для всех подсистем МИС: материала-носителя ЦМД, проводникового и пермаллоевого управляющих покрытий Показано, что в случае идеализированною функционирования элементов пермаллоевого управляющего покрытия границы области устойчивой работы (ОУР) МИС на ЦМД определяются условиями локальной неустойчивости намагниченности материала-носителя ЦМД Впервые сформулированы условия локальной неустойчивости намагниченности с учетом дестабилизирующего влияния термических флуктуаций. Использование этих условий позволило провести оценку деградации ОУР, наблюдаемой при длительной работе подсистемы материала-носителя ЦМД, и показать, что дестабилизирующее влияние термических флуктуаций является естественным пределом, определяющим надежность хранения информации в МИС на ЦМД Работа рассчитана на специалистов, занимающихся вопросами разработки и практического применения ЗУ и других технических устройств на ЦМД