В настоящем препринте собраны материалы по микросхемам серий К155 и К589, как правило, средней и большой интеграции, которые накопились в результате исследований, проводившихся в Институте с 1978 года в связи с необходимостью построения тестов для различных дискретных объектов. Проверяющие тесты строились для класса одиночных константных неисправностей логической сети микросхемы на вентильном уровне. Полнота (стопроцентность) построенных тестов подтверждалась результатами их машинного диагностического моделирования