Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬ. Публикации

Библиографическая ссылкаГод

Брошюры

1Шавыкин Н.А., Петрухин Б.П., Жидомирова Е.М. Методика оценки безотказности технических средств. М.: ИПУ РАН, 1998. – 80 с.1998
2Васильева Н.П., Петрухин Б.П. Проектирование логических элементов автоматики. М.: Энергия, 1970. – 336 с.1970

Статьи в журналах/сборниках из перечня ВАК

3Петрухин Б.П. КМДП цифровые (логические) СБИС, подходы к оценке долговечности. // Датчики и системы. 2018. № 11. С. 27-34.2018
4Петрухин Б.П. Прогнозирование интенсивности отказов КМДП СБИС по результатам контрольных испытаний // Датчики и системы. 2017. № 6. С. 25-35.2017
5Петрухин Б.П. Особенности прогнозирования надежности систем и устройств по методике 217PLUS TM часть 2. Модели прогнозирования интенсивности отказов устройств и систем // Датчики и системы. 2014. № 7. С. 26-33.2014
6Петрухин Б.П. Особенности прогнозирования надёжности систем и устройств по методике 217 Plus TM часть 1. Модели интенсивности отказов компонент // Датчики и системы. 2014. № 6. С. 37-43.2014
7Петрухин Б.П. Оценка качества разработки систем и устройств по методике 217PLUS TM часть 3. Прогнозирование надёжности систем и устройств, оценка качества. // Датчики и системы. 2014. № 8. С. 35-51.2014
8Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Анализ результатов контрольных испытаний на безотказность КМДП СБИС // Датчики и системы. 2009. №8(123). С. 9-13.2009
9Петрухин Б.П., Пикалов А.Т., Шавыкин Н.А. Сравнительный анализ методов оценки интенсивности отказов КМДП СБИС // Надежность. 2008. № 2 (25). С. 39-44.2008
10Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 1 // Надежность. 2006. № 3 (18). С. 43-55.2006
11Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 2 // Надежность. 2006. № 4 (19). С. 58-66.2006
12Шавыкин Н.А., Петрухин Б.П. Оценка показателей безотказности механических элементов продукции приборостроения // Датчики и системы. 2006. № 6. С. 28-35.2006

Доклады

13Петрухин Б.П. СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ / Управление развитием крупномасштабных систем (MLSD’2011): Труды Пятой международной конференции (3-5 октября 2011 г., Москва, Россия). М.: ИПУ РАН, 2011. Т. 2. С. 158-164.2011
14Антонов А.В., Петрухин Б.П. Особенности анализа надежности блоков аппаратуры, используемых в системах управления ответственными объектами / Труды 4-й Международной конференции «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2010, Москва). М.: Учреждение Российской Академии наук Институт проблем управления им В.А.Трпезникова РАН, 2010. Том II. С. 142-151.2010
15Антонов А.В., Петрухин Б.П. Особенности анализа надёжности блоков аппаратуры, используемых в системах управления ответственными объектами. / Труды 4-й Международной конференции «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2010, Москва). М.: Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А.Трапезникова РАН, 2010. Т. II . С. 142-152.2010
16Антонов А.В., Петрухин Б.П. Проектный анализ надежности блоков аппаратуры с резервированием и диагностикой, используемых в системах управления ответственными объектами / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 102 -110.2010
17Антонов А.В., Петрухин Б.П. Проектный анализ надежности блоков аппаратуры с резервированием и диагностикой, используемых в системах управления ответственными объектами / Труды 2-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2010, Москва). М.: ИПУ РАН, 2010. С. 102-110.2010

Тезисы докладов

18Петрухин Б.П. ОСОБЕННОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ / Материалы 5-й Международной конференции «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2011, Москва). М.: ИПУ РАН, 2011. Т. 2. С. 158-161.2011