Изобретение относится к области информационно-измерительной техники. Техническим результатом предлагаемого способа является упрощение процедуры измерения уровня вещества. Технический результат достигается тем, что в автоподстроечном способе измерения малого значения уровня вещества, включающем зондирование поверхности контролируемого вещества электромагнитными волнами и образование интерференции зондирующих и отраженных от поверхности вещества электромагнитных волн, измеряют частоту излучения зондирующих электромагнитных волн при одном определенном значении уровня вещества, изменяют частоту излучения зондирующих электромагнитных волн в зависимости от знака изменения уровня до достижения второго определенного уровня вещества, измеряют частоту излучения зондирующих электромагнитных волн при втором определенном значении уровня вещества и по отношению измеренных частот, соответствующих первому и второму определенным значениям уровня вещества, определяют величину уровня вещества.