49906

Автор(ы): 

Автор(ов): 

1

Параметры публикации

Тип публикации: 

Статья в журнале/сборнике

Название: 

КМДП цифровые (логические) СБИС, подходы к оценке долговечности.

ISBN/ISSN: 

1992-7185

Наименование источника: 

  • Датчики и системы

Обозначение и номер тома: 

№ 11

Город: 

  • Москва

Издательство: 

  • Издатель ООО "СанСиДат-Контрол"

Год издания: 

2018

Страницы: 

27-34
Аннотация
Рассмотрены основные процессы старения в современных КМДП сверх больших интегральных схемах, которые влияют на их долговечность, а именно пробой подзатворного тонкого диэлектрика, увеличение подпорогового тока утечки, изменения параметров металлизации и др.процессы, приводящие изменению передаточной характеристики вентилей и снижению помехоустойчивости.

Библиографическая ссылка: 

Петрухин Б.П. КМДП цифровые (логические) СБИС, подходы к оценке долговечности. // Датчики и системы. 2018. № 11. С. 27-34.