Предлагается принцип метрологического обеспечения волновых измерений неэлектрических величин. На базе волновых методов измерения параметров технологических процессов анализируются вопросы, связанные с процессом косвенного измерения физических величин. На основе оценки некоторых показателей измерительного процесса, обосновывается необходимость выбора оптимальных схемных решений при преобразовании и регистрации информационных сигналов. Приведены выражения, позволяющие определить точностные и другие метрологические характеристики измерителей неэлектрических величин.