Автор(ы): Томфельд Ю. Л. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 1 Параметры публикацииТип публикации: ДокладНазвание: О структурных аспектах отказоустойчивости системы на кристалле многослойной интегральной схемы при внешних повреждающих факторахНаименование конференции: Информационные технологии в науке, образовании, телекоммуникации и бизнесе (IT+S&E – Information Technologies in Science, Education, Telecommunication and Business)Город: МоскваИздательство: Открытое образованиеГод издания: 2007Страницы: 2 АннотацияРассмотрена возможная многослойная "интеллектуальная" диагностическая система на кристалле для реконфигурации при возникновении точечных повреждающих факторов. Библиографическая ссылка: Томфельд Ю.Л. О структурных аспектах отказоустойчивости системы на кристалле многослойной интегральной схемы при внешних повреждающих факторах / . М.: Открытое образование, 2007. С. 2.
