Проведен анализ данных результатов испытаний на безотказность КМДП СБИС, проведенных фирмами ALTERA и XILINX за последние 5 - 7 лет. Получены верхние оценки интенсивности отказов с доверительной вероятностью 0,9 для всех видов цифровых нано схем, производимых этими фирмами. Данные результаты можно использовать при расчетах надежности устройств и систем.