Автор(ы): Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 1 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: Особенности прогнозирования надежности систем и устройств по методике 217PLUS TM часть 2. Модели прогнозирования интенсивности отказов устройств и системISBN/ISSN: 1992-7185Наименование источника: Датчики и системыОбозначение и номер тома: № 7Город: МоскваИздательство: Сенсидат-ПлюсГод издания: 2014Страницы: 26-33 АннотацияРассмотрены модели прогнозирования интенсивности отказов систем и устройств, используемые в методике 217PLUS TM. Представлены распределения системных отказов по причинам. Предложена модель для оценки надежности программного обеспечения. Библиографическая ссылка: Петрухин Б.П. Особенности прогнозирования надежности систем и устройств по методике 217PLUS TM часть 2. Модели прогнозирования интенсивности отказов устройств и систем // Датчики и системы. 2014. № 7. С. 26-33.
