Автор(ы): Васьковский С. В. (ИПУ РАН, Лаборатория 17)Морозов В. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 69) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 2 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: К проблеме ретроспективного анализа надежности электронной аппаратурыНаименование источника: Датчики и системыОбозначение и номер тома: №4Город: МоскваИздательство: ООО"Сенсидат-Плюс"Год издания: 2014Страницы: 39-41 АннотацияИсследованы причины одного вида параметрических отказов малых АТС за время длительной непрерывной работы Библиографическая ссылка: Васьковский С.В., Морозов В.П. К проблеме ретроспективного анализа надежности электронной аппаратуры // Датчики и системы. 2014. №4. С. 39-41.