Аксенова Г. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬ. Публикации

Библиографическая ссылкаГод

Статьи в журналах/сборниках из перечня Web of Science/Scopus

1Аксенова Г.П. Localization of Multiple Faults with Group Control on a Discrete Device // Automation and Remote Control. 2017. Vol. 78, № 12. С. 2194-2203.2017
2Аксенова Г.П. Increasing Resolvability for the Matrix Fault Localization Method // Automation and Remote Control. 2016. V. 77, No. 8. С. 1447-1452.2016
3Аксенова Г.П. Lokalization of Faulty Multy-output Unit in Discrete Device // Automation and Remote Control. 2015. Volume 76, Number 2. С. 304-310.2015
4Аксенова Г.П. A Matrix Method for PLD Failure Localization // Automation and Remote Control. 2013. Volume 74, Number 9. С. 1525-1529.2013
5Аксенова Г.П. Compaction of Test Response at Self-testing in the Programmable Logic Matrices // Automation and Remote Control. 2013. Volume 74, Number 2. С. 264-274.2013

Статьи в журналах/сборниках из перечня ВАК

6Аксенова Г.П. ЛОКАЛИЗАЦИЯ КРАТНЫХ НЕИСПРАВНОСТЕЙ ПРИ ГРУППОВОМ КОНТРОЛЕ В ДИСКРЕТНОМ УСТРОЙСТВЕ // Автоматика и телемеханика. 2017. № 12. С. 118-130.2017
7Аксенова Г.П. Повышение разрешающей способности матричного метода локализации неисправностей // Автоматика и телемеханика. 2016. № 8. С. 159-166.2016
8Аксенова Г.П. Локализация неисправного многовыходного блока в дискретном устройстве // Автоматика и телемеханика. 2015. № 2. С. 141-149.2015
9Аксенова Г.П. Матричный способ анализа тестовой реакции в программируемых логических интегральных схемах // Проблемы управления. 2014. № 5. С. 65-69.2014
10Аксенова Г.П. Матричный способ локализации неисправностей в ПЛИС // Автоматика и телемеханика. 2013. № 9. С. 119 - 124.2013
11Аксенова Г.П. Сжатие тестовой реакции при самотестировании в программируемых логических матрицах // Автоматика и телемеханика. 2013. № 2. С. 124-138.2013
12Аксенова Г.П. Контролепригодная архитектура для самотестирования в программируемых логических матричных структурах // Автоматика и телемеханика. 2010. № 12. С. 154-165.2010
13Аксенова Г.П. О функциональном диагностировании дискретных устройств в условиях работы с неточными данными // Проблемы управления. 2008. № 5. С. 62-66.2008
14Аксенова Г.П., Халчев В.Ф. Метод параллельно-последовательного самотестирования в интегральных схемах типа FPGA // Автоматика и телемеханика. 2007. № 1. С. 163-174.2007

Доклады

15Аксенова Г.П. Аппаратурные затраты при групповом контроле в дискретном устройстве / Труды 13-го Всероссийского совещания по проблемам управления (ВСПУ XIII, Москва, 2019). Москва.: ИПУ РАН, 2019. С. 2398-2402.2019
16Аксенова Г.П. Организация группового контроля в дискретном устройстве / Труды 17-й Международной конференции «Системы проектирования, технологической подготовки производства и управления этапами жизненного цикла промышленного продукта (CAD/CАМ/PDM-2017, Москва). М.: ИПУ РАН, 2017. С. 30-34.2017
17Аксенова Г.П. Матрично-диагональный способ локализации неисправностей в дискретном устройстве / Труды 16-й Международной конференции «Системы проектирования, технологической подготовки производства и управления этапами жизненного цикла промышленного продукта» (CAD/CAM/PDM-2016, Москва). М.: М.: ООО «Аналитик»., 2016. С. 129-132.2016
18Аксенова Г.П. Локализация неисправного блока в ПЛИС / Труды XII Всероссийского совещания по проблемам управления (ВСПУ-2014, Москва). М.: ИПУ РАН, 2014. С. 7546-7552 http://vspu2014.ipu.ru/node/8602.2014
19Аксенова Г.П. Самотестирование «системы-на-кристале», реализованной в ПЛИС / . М.: ИПУ РАН, 2010. С. 141-142.2010
20Аксенова Г.П. Обеспечение контролепригодности в матрице типа FPGA / . Харьков: Национальный аэрокосмический университет им. Н.Е. Жуковского ХАИ, 2007. С. 4.2007

Тезисы докладов

21Аксенова Г.П. Анализ схемы встроенного контроля в режиме работы с неточными данными / . Томск: ТвГУ, 2008. С. 40-40.2008
22Аксенова Г.П. Оценка аппаратурной сложности схем встроенного контроля при переходе к работе с неточными данными / . М.: ИПУ РАН, 2008. С. 2.2008

Патенты/Свидетельства

23Аксенова Г. П., Халчев В. Ф. Устройство анализа результатов тестирования для локализации двукратных неисправностей: Патент на изобретение № 2633908 РФ; Зарег. 19.10.2017.2017
24Аксенова Г. П., Халчев В. Ф. Устройство анализа результатов тестирования для поиска неисправных блоков: Патент на изобретение № 2540805 РФ; Зарег. 22.12.2014.2014