Автор(ы): Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 1 Параметры публикацииТип публикации: Тезисы докладаНазвание: ОСОБЕННОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ ISBN/ISSN: ISBN 978-5-91450-082-2 (т. II) ISBN 978-5-91450-083-9 Наименование конференции: 5-я Международная конференция «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2011, Москва)Наименование источника: Материалы 5-й Международной конференции «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2011, Москва)Обозначение и номер тома: Т. 2Город: МоскваИздательство: ИПУ РАНГод издания: 2011Страницы: 158-161 АннотацияРассмотрены особенности прогнозирования интенсивности отказов различного рода интегральных микросхем. Приведены примеры расчета цифровых СБИС (ПЛИС, Микропроцессоров, элементов памяти). Результаты расчетов сопоставлены с результатами испытаний аналогичных изделий, проведенными ведущими фирмами - изготовителями (Altera и Xilinx) в течение последний пяти лет. Библиографическая ссылка: Петрухин Б.П. ОСОБЕННОСТИ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ / Материалы 5-й Международной конференции «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2011, Москва). М.: ИПУ РАН, 2011. Т. 2. С. 158-161.
