14514

Автор(ы): 

Автор(ов): 

1

Параметры публикации

Тип публикации: 

Доклад

Название: 

СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ

ISBN/ISSN: 

ISBN 978-5-91450-088-4 (Т.II) ISBN 978-5-91450-089-1

Наименование конференции: 

  • 5-я Международная конференция «Управление развитием крупномасштабных систем» (MLSD-2011, Москва)

Наименование источника: 

  • Управление развитием крупномасштабных систем (MLSD’2011): Труды Пятой международной конференции (3-5 октября 2011 г., Москва, Россия).

Обозначение и номер тома: 

Т. 2

Город: 

  • Москва

Издательство: 

  • ИПУ РАН

Год издания: 

2011

Страницы: 

158-164
Аннотация
В последней версии справочника MIL217 Plus для всех видов интегральных микросхем предложена упрощенная методика оценки интенсивности отказов. Все виды ИМС делятся на три группы: Цифровые, Линейные и Памяти и микропроцессоры, которые в свою очередь в зависимости от вида корпуса делятся на две подгруппы: герметичные и не герметичные. В работе проведен сравнительный анализ результатов прогнозирования с данными, полученными для цифровых КМДП СБИС при испытаниях. Установлено, что основную долю интенсивности отказов по версии 217+ составляют отказы контактных соединений.

Библиографическая ссылка: 

Петрухин Б.П. СРАВНИТЕЛЬНЫЙ АНАЛИЗ РЕЗУЛЬТАТОВ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ / Управление развитием крупномасштабных систем (MLSD’2011): Труды Пятой международной конференции (3-5 октября 2011 г., Москва, Россия). М.: ИПУ РАН, 2011. Т. 2. С. 158-164.