Изобретение в виде способа относится к области измерительной техники и упрощает процедуру измерения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую основу. Предлагаемый способ основан на оценке разности фаз отраженных волн от двух границ раздела сред при зондировании контролируемого покрытия электромагнитными волнами.