Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами. Способ определения толщины диэлектрического покрытия с известным коэффициентом отражения материала, нанесенного на диэлектрическую основу, заключается в том, что зондируют диэлектрическое покрытие электромагнитным сигналом излучателя, выполненного в виде зеркальной антенны, и принимают отраженный от поверхности контролируемого покрытия сигнал посредством приемника, выполненного в виде зеркальной антенны. 1 ил.