Доклады |
| 1 | Морозов А.В., Сонин М.С. Устройство для тестирования нелинейности полупроводниковых структур при слабых сигналах / Труды 3-й Всероссийской конференции с международным участием «Технические и программные средства систем управления, контроля и измерения» (УКИ-2012, Москва). М.: ИПУ РАН, 2012. С. 1594-1597. | 2012 |
