Автор(ы): Сиротюк В. О. (ИПУ РАН, Лаборатория 20)Автор(ов): 1 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: Формализованные модели и методы анализа и оценки полноты патентных информационных фондов (на примере международной патентной организации) ISBN/ISSN: 1819-3161DOI: 10.25728/pu.2018.6.5Наименование источника: Проблемы управленияОбозначение и номер тома: № 6Город: МоскваИздательство: Издатель ООО «Сенсидат-Плюс»Год издания: 2018Страницы: 35-43 АннотацияСформулированы требования к структуре и полноте патентного информационного фонда. Дано определение показателя полноты фонда и предложены формализованные модели и методы ее анализа и оценки. Полученные результаты применены для оценки полноты и совершенствования баз данных патентного информационного фонда международной патентной организации – Евразийского патентного ведомства Библиографическая ссылка: Сиротюк В.О. Формализованные модели и методы анализа и оценки полноты патентных информационных фондов (на примере международной патентной организации) // Проблемы управления. 2018. № 6. С. 35-43.
