Запатентованы варианты тестовых способов измерения сопротивления, индуктивности и емкости, позволяющие выполнить коррекцию аддитивной (за четыре такта измерения) и мультипликативной (за пять тактов измерения) составляющих погрешности с учетом временного дрейфа этих составляющих при линейной аппроксимации характеристики измерительного преобразователя в каждый момент времени. Приведены примеры устройств, реализующие описанные варианты.