Запатентован тестовый способ измерения сопротивлений, индуктивностей и емкостей, позволяющие выполнить коррекцию аддитивной и мультипликативной составляющих погрешности при линейной аппроксимации характеристики измерительного преобразователя за три такта измерения. Также запатентованы устройства, реализующие предложенный способ на минимальном количестве элементов .