Изобретение относится к области измерительной техники. Заявленный способ основан на измерении времени запаздывания между зондирующим поверхность покрытия и прошедшим через диэлектрическое покрытие и диэлектрическое основание проникающим сигналами и времени запаздывания между зондирующим и отраженным от поверхности покрытия сигналами и вычитании этих времен запаздывания. Техническим результатом изобретения является упрощение процедуры получения информативного сигнала о толщине покрытия. 1 ил.