Башин А. Ю. (ИПУ РАН, Лаборатория 02) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬ. Публикации

№Библиографическая ссылкаГод

Статьи в журналах/сборниках из перечня ВАК
1Башин А.Ю., Симаков А.Б. Радиационно-стимулированное термическое окисление кремния // Журнал Микроэлектроника. 2006. С. -.2006

Доклады
2Башин А.Ю. Измерение объемного содержания компонентов эмульсионных газожидкостных потоков с применением акустического резонатора / . -: -, 2010. С. 4с.2010

Тезисы докладов
3Башин А.Ю., Иванов М.А. Исследование зависимости эффективности отжига радиационных дефектов в МОП транзисторах при помощи инфракрасного излучения от интенсивности данного излучения / . -: -, 2010. С. 91-92.2010
4Башин А.Ю., Селезнев А.Н. Сравнение эффективности отжига радиационных дефектов при помощи инфракрасного излучения для биполярных и МОП транзисторов / . -: -, 2010. С. 98-99.2010
5Башин А.Ю., Ивашин Д.В. Исследование быстродействия биполярных транзисторов после воздействия инфракрасного излучения / . -: -, 2009. С. 121-122.2009
6Башин А.Ю., Слесарев А.Ю. Определение изменения радиационной стойкости МОП транзисторов в зависимости от времени воздействия ИК излучения / . -: -, 2009. С. 88-89.2009
7Башин А.Ю., Авдеев Г.И. Использование предварительной обработки ультрафиолетовым и инфракрасным излучением для диагностики радиационного отклика биполярных и МОП-транзисторов / . -: -, 2008. С. -.2008
8Башин А.Ю., Ивашин Д.В. Влияние частоты переключений на радиационную стойкость МОП транзисторов / . -: -, 2008. С. -.2008
9Башин А.Ю. Определение покомпонентного объёмного содержания потока типа «газ-жидкость-жидкость» на основе электромагнитного и акустического резонаторов / . -: -, 2008. С. -.2008
10Башин А.Ю. Влияние комбинированного воздействия инфракрасного излучения и различных электрических режимов на радиационную стойкость биполярных транзисторов / . -: -, 2007. С. 61-62.2007
11Башин А.Ю., Павлов Д.Ю. Влияние смещения перехода эмиттер-база в процессе воздействия инфракрасного излучения на радиационный отклик биполярного транзистора / . -: -, 2007. С. 89-90.2007
12Башин А.Ю. Отжиг радиационных дефектов в биполярных npn транзисторах при помощи воздействия инфракрасного излучения / . М.: -, 2006. С. 29-30.2006
13Башин А.Ю., Першенков В.С. Инфракрасный отжиг радиационных дефектов в биполярных pnp имс / . -: -, 2005. С. -.2005