Халчев В. Ф. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬ. Публикации

№	Библиографическая ссылка	Год
Брошюры
1	Каравай М.Ф., Халчев В.Ф. Проверяющие тесты для микросхем серий К155 и К589. М.: ИПУ РАН, 1984. – 45 с.	1984
2	Пархоменко П.П., Карибский В.В., Согомонян Е.С., Халчев В.Ф. Основы технической диагностики. Модели объектов, методы и алгоритммы диагноза. М.: Энергия, 1976. – 464 с.	1976
Статьи в журналах/сборниках из перечня ВАК
3	Аксенова Г.П., Халчев В.Ф. Метод параллельно-последовательного самотестирования в интегральных схемах типа FPGA // Автоматика и телемеханика. 2007. № 1. С. 163-174.	2007
Патенты/Свидетельства
4	Аксенова Г. П., Халчев В. Ф. Устройство анализа результатов тестирования для локализации двукратных неисправностей: Патент на изобретение № 2633908 РФ; Зарег. 19.10.2017.	2017
5	Аксенова Г. П., Халчев В. Ф. Устройство анализа результатов тестирования для поиска неисправных блоков: Патент на изобретение № 2540805 РФ; Зарег. 22.12.2014.	2014