Устройство анализа результатов тестирования для локализации двукратных неисправностей
Библиографическая ссылка:
Аксенова Г. П., Халчев В. Ф. Устройство анализа результатов тестирования для локализации двукратных неисправностей: Патент на изобретение № 2633908 РФ; Зарег. 19.10.2017.