Для измерения малых токов, протекающих под воздействием двуполярного сигнала на тестовые полупроводниковые структуры, предлагается применить микросхемный интегратор с логическим управлением, что сократит трудоемкость регистрации малосигнальных нелинейностей по сравнению со снятием характеристик «по точкам». При этом синхронизация частоты повторения тактов интегрирования с частотой питающей сети существенно ослабит влияние сетевых помех на результаты тестирования. Ключевые слова: малые токи, нелинейные полупроводниковые структуры, аналоговое интегрирование