Автор(ы): Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬШавыкин Н. А. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 2 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 1ISBN/ISSN: 1729-2646Наименование источника: НадежностьОбозначение и номер тома: № 3 (18)Город: МоскваИздательство: ООО "Журнал Надежность"Год издания: 2006Страницы: 43-55 АннотацияНа примерах оценки интенсивности отказов интегральных микросхем рассмотрены особенности наиболее распространенных методик прогнозирования безотказности изделий электронной техники. В сокращенном виде представлена последняя редакция американского военного справочника MIL–HDBK–217F. Даны примеры расчета интенсивности отказов для наиболее характерных КМДП ИС. Библиографическая ссылка: Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 1 // Надежность. 2006. № 3 (18). С. 43-55.
