Автор(ы): Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬШавыкин Н. А. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 2 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 2ISBN/ISSN: 1729-2646Наименование источника: НадежностьОбозначение и номер тома: № 4 (19)Город: МоскваИздательство: ООО "Журнал Надежность"Год издания: 2006Страницы: 58-66 АннотацияНа примере оценки интенсивности отказов интегральных микросхем рассмотрены особенности методик прогнозирования безотказности изделий электронной техники, представленные в американских стандартах Bellcore (документ TR – 332) и PRISM.Проведен анализ моделей и методов прогнозирования интенсивности отказов КМДП ИС. Библиографическая ссылка: Петрухин Б.П., Шавыкин Н.А. Методики прогнозирования показателей безотказности современной элементной базы (на примере интегральных микросхем). Часть 2 // Надежность. 2006. № 4 (19). С. 58-66.
