Автор(ы): Петрухин Б. П. (ИПУ РАН, Лаборатория 27) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬАвтор(ов): 1 Параметры публикацииТип публикации: Статья в журнале/сборникеНазвание: Особенности прогнозирования надёжности систем и устройств по методике 217 Plus TM часть 1. Модели интенсивности отказов компонентISBN/ISSN: ISSN 1992 - 7185Наименование источника: Датчики и системыОбозначение и номер тома: № 6Город: МоскваИздательство: Сенсидат-ПлюсГод издания: 2014Страницы: 37-43 АннотацияРассмотрены наиболее существенные отличия моделей методики 217 Plus TM прогнозирования безотказности элементов технических средств от используемых в традиционных методиках (MIL217, RDF2000 и т.п.).Предложены модели и исходные данные для оценки интенсивности отказов ИМС, п.п. приборов, оптоэлектронных, электромеханических, коммутационных и др. комплектующих Показаны их достоинства и недостатки. Библиографическая ссылка: Петрухин Б.П. Особенности прогнозирования надёжности систем и устройств по методике 217 Plus TM часть 1. Модели интенсивности отказов компонент // Датчики и системы. 2014. № 6. С. 37-43.