29391

Автор(ы): 

Ведешенков В. А. (ИПУ РАН, Лаборатория 09) НЕАКТУАЛЬНАЯ ЗАПИСЬ

Автор(ов): 

1

Параметры публикации

Тип публикации: 

Доклад

Название: 

Подход к оцениванию степени диагностируемости цифровых систем со структурой симметричного двудольного графа

ISBN/ISSN: 

978-5-9905661-8-7 (Часть III)

Наименование конференции: 

  • Международная научно-практическая конференция «Наука и образование в XXI веке: теория, практика, инновации» (Москва, 2014)

Наименование источника: 

  • Сборник научных трудов международной научно-практической конференции "Наука и образование в XXI веке: теория, практика, инновации" (Москва, 2014)

Обозначение и номер тома: 

Часть III

Город: 

  • Москва

Издательство: 

  • АР-Консалт

Год издания: 

2014

Страницы: 

77-81
Аннотация
Приведен подход к оцениванию степени диагностируемости цифровых систем со структурой симметричного двудольного графа с использованием аппарата потенциальных синдромов. Показано, что анализируемая система не является 2-однократно диагностируемой без ремонта системой. Ошибки диагностирования одновременного отказа двух вершин из подмножества X связано с осбенностями структуры анализируемой системы.

Библиографическая ссылка: 

Ведешенков В.А. Подход к оцениванию степени диагностируемости цифровых систем со структурой симметричного двудольного графа / Сборник научных трудов международной научно-практической конференции "Наука и образование в XXI веке: теория, практика, инновации" (Москва, 2014). М.: АР-Консалт, 2014. Часть III. С. 77-81.